第二届国际测试自动化与仪器仪表学术会议在京召开

　　第二届国际自动化与仪器仪表学术会议于是2008年11月17日在北京燕翔饭店隆重举行。会议由中国仪器仪表学会主办、国家自然科学基金，美国硅谷科技协会协办；中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会、北京信息科技大学和电子测量与仪器学报联合承办。此次会议也作为第十九届多国仪器仪表展览会学术交流大会的分会场之一。

　　ISTAI2008会议开幕由徐许宝杰教授主持,大会主席张钟华院士致辞,中国仪器仪表学会秘书长吴幼华和北京信息科技大学校长杜林教授分别代表主办方和承办单位讲话,对来自四面八方的与会代表表示热烈欢迎和衷心感谢,并祝大会取得圆满成功。17日上午,首先由Evansvile大学的Wallace shakun教授做了“Test Automation Enables Industrial Innovation”的专题报告。张钟华院士为大会做了题目“The QHR Standard in China”的专题报告,会议特邀嘉宾美国安捷伦公司总经理做了题为“Future of Wireless Broadband”的专题报告.三个报告受到与会者的热烈欢迎。会议邀请到多个国家30多位知名专家与学者前来参会,数十名会议代表在大会作报告,并有一百多名代表做论文张贴.我国各大专院校科研院所的200余名代表出席了大会。