GE新推出trueDGS 斜探头提高缺陷定量精度

　　日前，GE检测控制技术业务部门最新的的专利技术trueDGS ，使超声斜探头在使用的DGS方法下提高定量精度。DGS 方法作为一种探测间断点的定量技术，在欧洲和世界许多国家都制定了标准（如EN 583-2）。新型的斜探头的DGS精度和圆形晶直探头一样，可作为单晶片探头和相控阵探头，应用于对精度、兼容性、超声检测有一定要求的工业领域。

　　目前，斜探头主要使用DGS技术，探测和定量物料缺陷，DGS技术依赖于DGS算法。超声检测员在他的缺陷探测仪上能看到缺陷迹象提示，将之与DGS曲线匹配，就能确定与缺陷等价的反射物的大小。但是，DGS方法最初从直探头发展起来，使用圆形晶直探头。现在单晶片探头和超声相控阵探头因为折射原因，与直探头相比，具有不同的超声探测特性，在DGS评估中会有偏差。随着新一代的trueDGS 斜探头的发展，这一点问题已经得到了解决。

　　正如该新型探头的发明者之一，GE的Wolf Kleinert所说：“新型探头的模型是用给定的圆形晶直探头计算的，在给定入射角和延长线长度的条件下，将探头中所有声波的特性转移到斜探头中。由此产生的点云形状决定了trueDGS 斜探头的传感器模型。

　　CAD建模后，就能进行trueDGS 的制造，极大提高了其与相应DGS算法的匹配程度。同样的道理也适用于相控阵探头。因此，使用DGS的超声检测要精确得多，减少了误判或者返工，。具有trueDGS技术的斜探头将延续最盛行的MWB系列探头的优势，并且GE所有于此相关的探伤仪都将包含相关软件。

　　关于GE检测控制技术

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