用光谱测量！OC Sharp纳米级激光距离传感器上市

OC Sharp属于短距离激光测距（也叫位移传感器）产品，其测量基于“光谱分析”原理，是和原OD系列采用的“三角测量法”原理完全不同的最新技术。SICK提供“光谱共焦”和“光谱干涉”2种测量原理的测量头，精度可以达到纳米（10-9米）级（即分子水平），是目前全球最高精度的非接触式测量传感器之一。全新“光谱分析”技术保证可以适应任何颜色的被测物，其测量头是纯机械结构的光学部件，不含电子元器件，杜绝电磁干扰和高温影响。同时，它使用的是白色直射可见光，完美适应弧面和深孔等测量应用。

基于以上优异的产品特性，OC Sharp十分适用于电子和太阳能行业中半导体硅片表面晶相测量，制药行业中试管内药物液位高精度测量，玻璃行业中玻璃高精度测厚，以及包装等行业中薄膜测厚。

 特性规格
    
    ▪  产品量程从600微米到12毫米

▪  光谱共焦法原理传感器带来高精度和高可靠性

▪  极高的测量频率，达4,000 Hz

▪  广泛适用于各种材料和颜色被测物的高精度稳定测量

▪  一个测量头即可以精确测量极薄透明薄膜的厚度

▪  最小4微米的极小光点，可以测量非常小的被测物

▪  最高5.5纳米的分辨率

▪  一台控制器同时连接一个测量头工作

▪  测距，透明测厚和干涉法测厚三种测量工作模式

▪  免费操作软件，使用方便

应用领域：

▪  高精度识别测量：比如汽车行业发动机和变速箱等核心部件的尺寸测量，机床行业的高精度加工件测量

▪  薄膜厚度测量：比如吹膜机膜厚监控，流延膜厚监控

▪  精密制造及组装行业：比如轴承钢珠外形监控，细孔深度测量

▪  电子及太阳能：半导体硅片表面物相监控

▪  电子及太阳能：电路板质量监控，高精度IC针脚监控，比如硬盘制造，消费电子产品组装质量监控

▪  透明玻璃厚度检测：比如显示屏玻璃平面度及厚度测量，镜头或镜片镀膜厚度检测

客户受益：

▪  得益于传感器纳米级的高精度和4K的测量频率，可以高速高精度的检测各种物体

▪  极高的精度和极大的允许倾斜角度，让现场使用非常灵活，节省成本

▪  单头测量透明物体厚度，为高精度透明物体测量提供高性价比方案

▪  得益于其极小的光斑，该传感器可以用来测量极小的被测物，比如IC针脚，或者极小的孔深，而这些原来的接触式或者三角测量法传感器都无法实现，为客户的测量提供新的可能方案。

▪  非接触性式，无需特殊安装设备及免示教的测量技术，为客户节省安装调试及后期维护时间，节省成本。

▪  随机附带的操作软件，为客户节省时间和成本